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MicroCT的空間分辨率測試解決方案

多年來，已經(jīng)提出了許多評估m(xù)icroCT系統(tǒng)性能的方法。通常，高分辨率的限制因素是焦點尺寸。這就是為什么許多測試僅依賴于從2D投影圖像確定光斑大小的原因。但是，3D中的真實空間分辨率取決于更多因素，而不僅僅是系統(tǒng)的機械精度。與持續(xù)時間相對較短的2D測試相比，所需的時間穩(wěn)定性要求更為嚴(yán)格。最后，處理和重建算法對3D可獲得的空間分辨率也有重大影響。

 

MicroCT的3D空間分辨率測試用——Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom


評估3D空間分辨率的一個很好的工具是可用德國QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。體模包含兩個放置在正交位置的硅芯片，包圍了1至10μm的多個分辨率測試圖案。在"使用QRM公司的MN099_3D空間分辨率 "中，模體的使用以SkyScan 1272臺式高分辨率微CT為例。
    
可選地，ASTM E 1695-95包含基于均勻圓柱狀測試對象（例如鋁銷）的掃描的測試方法。3D空間分辨率通過調(diào)制傳遞函數(shù)進行量化。另外，給出了確定對比靈敏度的指令。

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來自QRM GmbH的Bar Pattern NANO Phantom掃描的重建切片，使用SkyScan 1276高分辨率體內(nèi)微型CT進行了掃描，圖像像素尺寸為2.8μm。

 
 

MicroCT 2D空間分辨率——JIMA RT RC-04分辨率測試卡

通過測試對象（例如由W合金或Pt制成的球或交叉線）對傳輸曲線的仔細(xì)評估，可以確定邊緣的不清晰度。由此可以根據(jù)EN 12543-5：1999中所述計算光斑尺寸，或者對于5μm至300μm的光斑尺寸，也可以按照ASTM E 2903-13進行計算。對于更高分辨率的系統(tǒng)，可以通過分析從線條或星形圖案確定的調(diào)制傳遞函數(shù)MTF來計算焦點尺寸。所述JIMA分辨率測試卡RT RC-04和RT RC-02B包含線圖案范圍為0.1 - 10微米，0.4 - 15微米分別。

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通過SkyScan 2211多尺度X射線nanoCT獲得的MicroChart JIMA RT RC-02B的投影圖像。


詳細(xì)參數(shù)見具體產(chǎn)品詳情頁：

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德國QRM是一家質(zhì)控模體生產(chǎn)廠家，主要重點是診斷X射線，CT和微CT成像領(lǐng)域。能夠提供模體來分析圖像質(zhì)量（IQ），校準(zhǔn)HU級別以及劑量學(xué)問題。


JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會），致力于關(guān)注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。